Grade : Ingénieur de Recherche
Catégorie : Non-Permanents
Téléphone : 02 38 25 78 77
Contacter :
Durée du CDD : 18 mois
Laboratoire d’accueil : Interfaces, Confinement, Matériaux et Nanostructures (ICMN), CNRS /Université d’Orléans : Axe Polymère, Colloïdes et Organisation
Contrat de Recherche : Projet Etape, ARD CERTEM 5.0
Responsables : Mohamed Ramzi AMMAR et Louis HENNET
Domaines : Micro-électronique
Titre du sujet de recherche : Étude des propriétés physico-chimiques de nouveaux matériaux de passivation pour les composants de puissance.
Résumé :
Le travail de recherche vise à étudier de nouveaux matériaux de passivation haute fiabilité pour les composants électroniques de puissance. Ces matériaux doivent à terme remplacer les couches de passivation à base de verre au plomb qui fait l’objet de restriction du fait de sa toxicité. Les résultats attendus sont d’une part la mise au point des compositions verrières adaptées et d’autre part l’obtention des composants fiables dans la durée quand ils sont en tension.
Missions :
Dans les composants de puissance tel que le TRIAC (triode for alternating current), les couches de passivation permettent de limiter les pertes de performances dues aux effets de bord. Dans les composants étudiés dans le projet, des couches de passivation épaisses sont réalisées avec des verres au plomb et des couches plus minces de SIPOS (polysilicium dopé oxygène) sont déposées par voie CVD (Chemical Vapor Deposition).
Dans le cadre des normes REACH (Registration, Evaluation and Authorisation of Chemicals), règlement européen visant à sécuriser la fabrication et l’utilisation des substances chimiques dans l’industrie européenne, il est nécessaire de s’affranchir de l’usage du plomb.
L’objectif du travail est d’étudier les performances et les propriétés physico-chimiques et électriques des matériaux de passivation utilisés dans les composants électroniques de puissance et en particulier celles de verres sans plomb. Le but final de l’étude est de pouvoir effectuer une modélisation du composant en conditions de blocage de tension de longues durées (fiabilité du composant).
Parallèlement aux caractérisations électriques, si un ensemble d’informations physico-chimiques seront obtenues par une étude post-mortem des composants étudiés par des techniques de caractérisation multi-échelle (Spectroscopie Raman, Diffraction X, Microscopie électronique par transmission…), un des volets du travail sera d’essayer de définir et de mettre en place des méthodes de caractérisation non destructives du composant. Celles-ci seront notamment des techniques d’analyses sur les grands instruments qui permettent de traverser les enrobages des composants.
